口頭発表・ポスター発表等 - 宮瀬 紘平
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論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究
山下友哉，宮瀬紘平，温暁青
電子情報通信学会技術研究報告 2024年02月 IEICE
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回路情報を用いた入力パターンによって異なる高消費電力エリア特定に関する研究
章子晗，山下友哉，宮瀬紘平，温暁青
第88回FTC研究会 FTC研究会
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論理回路内のホットスポット特定手法とテストパターンごとに異なるホットスポットの評価に関する研究
宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 星野龍, ルー シュエクン, 温暁青, 梶原誠司
電子情報通信学会技術研究報告 2023年03月 IEICE
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信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究
星野龍, 宇都宮大喜, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
電子情報通信学会技術研究報告 2022年03月 IEICE
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メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究
高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72, pp. 18-23
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LSI の領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究
大庭 涼, 星野 龍, 宮瀬 紘平, 温 暁青, 梶原 誠司
デザインガイア2020 ～VLSI設計の新しい大地～ DC研究会，情報処理学会SLDM研究会, ICD研究会, RECONF研究会
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メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究
児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司
電子情報通信学会技術研究報告, vol. 119, no. 420, DC2019-93
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LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究
史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
電子情報通信学会技術研究報告, vol. 119, no. 420, DC2019-94
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加速度センサーを用いたランニングフォームの解析に関する研究
古賀千裕, ホルストシュテファン, 宮瀬紘平, 得居雅人
第80回FTC研究会
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正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司
信学技報, 2018-02-DC
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ランニングフォームに対する動作解析システムに関する研究
松原健人，池松拓磨，宮瀬紘平，ホルスト シュテファン，得意雅人
第78回FTC研究会
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On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Y. Zhang, S. Holst, X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, and J. Qian
信学技報, DC2017-48, Paper-17
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電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平
DC研究会
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Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation
Fuqiang Li
DC研究会 DC研究会
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実速度スキャンテスト生成におけるキャプチャ電力安全性保証及びクロックストレッチ削減について
浅田浩嗣
第74回FTC研究会 FTC研究会
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センサー技術を用いた動作解析システムに関する研究 (共著)
宮瀬紘平
第74回FTC研究会 FTC研究会
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レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平
DC研究会 DC研究会
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低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強, 温 暁青, 宮瀬 紘平, ホルスト シュテファン, 梶原 誠司
DC研究会
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パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法
田中広彬
電子情報通信学会技術研究報告
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低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
加藤隆明
電子情報通信学会技術研究報告
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New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate
Senling Wang
第66回ＦＴＣ研究会
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実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について
西田優一朗
第66回ＦＴＣ研究会
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フィールドテストの環境モニタ用回路の試作評価
三宅庸資
第66回ＦＴＣ研究会
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マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
山口久登
電子情報通信学会技術研究報告
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テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト
宮瀬紘平
電子情報通信学会技術研究報告
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実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
九州工業大学 坂井
電子情報通信学会技術研究報告 DC2010-60
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実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定
九州工業大学 河野
第64回ＦＴＣ研究会資料
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熱モニタ用リングオシレータの評価機構とTEG設計
九州工業大学 井上
第64回ＦＴＣ研究会資料
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信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
電子情報通信学会技術研究報告 VLD2009-55
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実速度スキャンテストにおけるクリティカルエリア特化型IR-Drop削減手法
九州工業大学 榎元
第62回電気関係学会九州支部連合大会
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ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法
本人
第61回ＦＴＣ研究会資料
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部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化
本人
電子情報通信学会技術研究報告 DC2009-76
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について
高嶋敦之
電子情報通信学会技術研究報告, DC2008-30(VLD2008-62)
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時消費電力削減手法
情報システム専攻 新田和彦
第58回FTC研究会資料
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について
情報創成工学専攻 福澤友晶
電子情報通信学会技術研究報告
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Per-Test X故障診断手法の診断分解能向上について
情報創成工学専攻 大谷雅志
LSIテスティングシンポジウム2007
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LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
情報創成工学専攻 中村優介
電子情報通信学会技術研究報告
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A Transition Delay Test Generation Method for Capture Power Reduction during At-Speed Scan Testing
情報創成工学専攻 Tomoaki. Fukuzawa
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