Publications (Books) - WEN Xiaoqing
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Prerequisites on Fault Diagnosis Reviewed
Chen H.H., Wen X., Cheng W.T.（Joint author）
Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip 2023.01 （ ISBN:9783031196393, 9783031196386 ）
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第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 入門編（改訂版）
温暁青、畠山一実（Joint author）
日経BPコンサルティング 2020.12 （ ISBN:978-4864431361 ）
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第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 応用編
温暁青、畠山一実（Joint author）
日経BPコンサルティング 2019.04 （ ISBN:978-4864431309 ）
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第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
温暁青、畠山一実（Joint author）
日経BPコンサルティング 2014.12 （ ISBN:978-4-8644-3071-5 ）
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Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems
Rohit Sharma, et al.（Joint author）
CRC Press 2014.11 （ ISBN:9781466589407 ）
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第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 入門編
温暁青、畠山一実（Joint author）
日経BPコンサルティング 2013.05 （ ISBN:978-4-8644-3039-5 ）
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Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies
X. Wen, Y. Zorian（Joint author）
John Wiley & Sons 2012.06 （ ISBN:978-0-470-90005-5 ）
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
P. Girard, N. Nicolici, X. Wen（Joint editor）
Springer 2009.11 （ ISBN:9781441909275 ）
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Chapter 3: "Low-Power Test Generation" in Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
X. Wen,S. Wang（Joint author）
Springer 2009.11 （ ISBN:978-1441909275 ）
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Chapter 7: "Test Synthesis" in Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test
L.-T. Wang,X. Wen, S. Wu（Joint author）
Morgan Kaufmann Publishers 2009.03 （ ISBN:978-0123743640 ）
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Chapter 7: "Low-Power Testing" in Advanced SOC Test Architectures Towards Nanometer Designs
P. Girard,X. Wen, N. A. Touba（Joint author）
Morgan Kaufmann Publishers 2007.12 （ ISBN:978-0123739735 ）
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半導体デバイスの評価・テスト・解析技術
温暁青,筒井信明,益子洋治,木村祐造,小坂彰（Joint author）
九州地域産業活性化センター 2006.10
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Chapter 2: "Design for Testability" in VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
L.-T. Wang, X. Wen, K. S. Abdel-Hafez（Joint author）
Morgan Kaufmann Publishers 2006.07 （ ISBN:978-0123705976 ）
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
L.-T. Wang, C.-W.Wu, X. Wen（Joint editor）
Morgan Kaufmann Publishers 2006.07 （ ISBN:978-0123705976 ）
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半導体テスト技術者育成実証講座 ベーシックコース
益子洋治,上村正幸,小野陽二,温暁青,筒井信明（Joint author）
大分県産業創造機構 2006.01
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半導体テスト技術者育成実証講座 ベーシックコース
益子洋治,上村正幸,小野陽二,温暁青,筒井信明（Joint author）
大分県産業創造機構 2006.01