宮瀬 紘平 (ミヤセ コウヘイ)

MIYASE Kouhei

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職名

准教授

研究室住所

福岡県飯塚市川津680-4

研究分野・キーワード

LSIテスト,テスト入力生成,消費電力テスト,故障診断, スポーツにおける動作解析

Scopus 論文情報  
総論文数: 0  総Citation: 0  h-index: 8

Citation Countは当該年に発表した論文の被引用数

出身大学 【 表示 / 非表示

  • 2002年03月   九州工業大学   情報工学部   電子情報工学科   卒業   日本国

出身大学院 【 表示 / 非表示

  • 2005年03月  九州工業大学  情報工学研究科  情報システム  博士課程・博士後期課程  修了  日本国

取得学位 【 表示 / 非表示

  • 九州工業大学 -  博士(情報工学)  2005年03月

学内職務経歴 【 表示 / 非表示

  • 2019年04月
    -
    継続中

    九州工業大学   大学院情報工学研究院   情報・通信工学研究系   准教授  

  • 2016年04月
    -
    2019年03月

    九州工業大学   大学院情報工学研究院   情報創成工学研究系   准教授  

  • 2014年04月
    -
    2016年03月

    九州工業大学   大学院情報工学研究院   情報創成工学研究系   助教  

  • 2008年04月
    -
    2014年03月

    九州工業大学   大学院情報工学研究院   電子情報工学研究系   助教  

  • 2007年04月
    -
    2008年03月

    九州工業大学   情報工学部   助教  

学外略歴 【 表示 / 非表示

  • 2005年04月
    -
    2007年03月

    独立行政法人科学技術振興機構研究成果活用プラザ   研究員   日本国

所属学会・委員会 【 表示 / 非表示

  • 2007年04月
    -
    継続中
     

    電子情報通信学会  日本国

  • 2007年04月
    -
    継続中
     

    情報処理学会  日本国

  • 2007年04月
    -
    継続中
     

    米国電気電子学会(IEEE)  アメリカ合衆国

専門分野(科研費分類) 【 表示 / 非表示

  • 計算機システム

 

研究経歴 【 表示 / 非表示

  • センサー技術を用いたスポーツ技術向上に関する研究

    センサー、マイコン、スポーツ、野球  

    研究期間: 2014年08月  -  継続中

  • LSI検査用入力のフレキシブル化応用技術に関する研究

    LSIテスト,テスト入力自動生成,ドントケアビット判定,低消費電力テスト,故障診断  

    研究期間: 2007年04月  -  継続中

論文 【 表示 / 非表示

  • On the efficacy of scan chain grouping for mitigating IR-drop-induced test data corruption

    Zhang Y., Holst S., Wen X., Miyase K., Kajihara S., Qian J.

    IEICE Transactions on Information and Systems    E104D ( 6 ) 816 - 827   2021年01月  [査読有り]

     概要を見る

    Loading test vectors and unloading test responses in shift mode during scan testing cause many scan flip-flops to switch simultaneously. The resulting shift switching activity around scan flip-flops can cause excessive local IR-drop that can change the states of some scan flip-flops, leading to test data corruption. A common approach solving this problem is partial-shift, in which multiple scan chains are formed and only one group of the scan chains is shifted at a time. However, previous methods based on this approach use random grouping, which may reduce global shift switching activity, but may not be optimized to reduce local shift switching activity, resulting in remaining high risk of test data corruption even when partial-shift is applied. This paper proposes novel algorithms (one optimal and one heuristic) to group scan chains, focusing on reducing local shift switching activity around scan flip-flops, thus reducing the risk of test data corruption. Experimental results on all large ITC'99 benchmark circuits demonstrate the effectiveness of the proposed optimal and heuristic algorithms as well as the scalability of the heuristic algorithm.

    DOI Scopus

  • Fault-Aware Dependability Enhancement Techniques for Phase Change Memory

    Lu S.K., Li H.P., Miyase K., Hsu C.L., Sun C.T.

    Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)      2021年01月  [査読有り]

     概要を見る

    A variety of resistive memories have been proposed in recent years. Among these emerging technologies, phase change memory (PCM) has received the most research attentions since it has the advantages of high scalability, non-volatility, fast access, strong data retention, low cost, and low power consumption. It is also considered as the most promising alternative of DRAM. In order to conquer the inevitable endurance problem of PCM cells which causes serious reliability and yield threats, hard repair and ECC (Error correction code) techniques are widely adopted. However, since soft errors are not a main threat for PCM, incorporating ECC for each data word is not a cost-effective technique since a lot of memory space is required for storing the check bits. In this paper, the progressive ECC techniques including the local progressive ECC (LPE) technique and the global progressive ECC (GPE) technique are proposed to solve this dilemma. The key innovation is to equip ECC for a data word when its first faulty cell is detected. In other words, we only equip fault detection code for data words such that the original code rate can be increased significantly. An ECC DRAM and an ECC CAM are used for storing check bits and accessing purposes, respectively. Hardware architectures for implementing the proposed GPE and LPE techniques are also provided. A simulator is developed for evaluating repair rate, reliability, yield, and hardware overhead. According to experimental results, the degradation of repair rate and reliability are almost negligible. However, the hardware overhead is at least 80% lower than the original ECC technique while maintaining the original reliability and yield levels.

    DOI Scopus

  • Probability of Switching Activity to Locate Hotspots in Logic Circuits

    Ryo Oba, Kohei Miyase, Ryu Hoshino, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara

    IEEE Workshop on RTL and High Level Testing       2020年11月  [査読有り]

    Virtual Workshop 

  • Design of a Triple-Node-Upset Self-Recoverable Latch for Aerospace Applications in Harsh Radiation Environments

    Yan A., Feng X., Hu Y., Lai C., Cui J., Chen Z., Miyase K., Wen X.

    IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems    56 ( 2 ) 1163 - 1171   2020年04月  [査読有り]

     概要を見る

    © 1965-2011 IEEE. In harsh radiation environments, nanoscale CMOS latches have become more and more vulnerable to triple-node upsets (TNUs). This paper first proposes a latch design that can self-recover from any possible TNU for aerospace applications in the 16-nm CMOS technology. The proposed latch is mainly constructed from seven mutually feeding-back soft-error-interceptive modules (SIMs), any of which consists of two three-input C-elements and one two-input C-element. Due to the mutual feedback mechanism of SIMs and the dual-level soft-error interception of each SIM, the latch can self-recover from any possible TNU. Simulation results demonstrate the TNU self-recoverability from any key TNU for the proposed latch using redundant silicon area. Furthermore, using a high-speed path, the proposed latch saves about 95.45% transmission delay and 86.97% delay-power-area product, compared with the state-of-the-art TNU-tolerant latch that cannot provide complete TNU self-recoverability at all.

    DOI Scopus

  • Analyzing running form with acceleration sensor

    Koga C., Miyase K., Tokui M.

    Digest of Technical Papers - IEEE International Conference on Consumer Electronics    2020-January   2020年01月  [査読有り]

     概要を見る

    © 2020 IEEE. Recently, motion analysis really helps athletes improve their performance. Since the systems of motion analysis are expensive and expertise in biomechanics or kinematics is necessary, it is difficult for athletes themselves to use them. In this work, we propose a motion analysis system with acceleration sensor. The proposed system is inexpensive since the system consists of inexpensive components. Besides, only two devices for analysis are required by concentrating on analyzing the motions of arm swing and foot strike. Experimental results demonstrate that the proposed system is useful for athletes to analyze running form.

    DOI Scopus

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著書 【 表示 / 非表示

  • 情報工学基礎実験

    九州工業大学情報工学部情報工学基礎実験運営委員会 ( 共著 )

    学術図書出版社  2019年09月 ISBN: 978-4-7806-0781-9

口頭発表・ポスター発表等 【 表示 / 非表示

  • メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究

    高藤大輝, 星野龍, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司

    電子情報通信学会技術研究報告, DC2020-72, pp. 18-23  2021年02月  -  2021年02月   

  • LSI の領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究

    大庭 涼, 星野 龍, 宮瀬 紘平, 温 暁青, 梶原 誠司

    デザインガイア2020 ~VLSI設計の新しい大地~  ( オンライン 開催)  2020年11月  -  2020年11月    DC研究会,情報処理学会SLDM研究会, ICD研究会, RECONF研究会

  • メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究

    児玉優也, 宮瀬紘平, 高藤大輝, 温暁青, 梶原誠司

    電子情報通信学会技術研究報告, vol. 119, no. 420, DC2019-93  2020年02月  -  2020年02月   

  • LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究

    史傑, 宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司

    電子情報通信学会技術研究報告, vol. 119, no. 420, DC2019-94  2020年02月  -  2020年02月   

  • 加速度センサーを用いたランニングフォームの解析に関する研究

    古賀千裕, ホルストシュテファン, 宮瀬紘平, 得居雅人

    第80回FTC研究会  2019年01月  -  2019年01月   

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講演 【 表示 / 非表示

  • 加速度センサーを用いたアスリートの動作解析

    電子情報通信学会 機能集積情報システム研究会 ( 広島市立大学 サテライトキャンパス )  2020年10月30日  電子情報通信学会・ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会

  • Post-ATPG Test Modification

    Kolloquium Universitat Passau Fakultat fur Informatik und Mathematik ( Universitat Passau )  2012年05月25日  Universitat Passau Fakultat fur Informatik und Mathematik

  • LSIの消費電力テスト

    日本大学生産工学部数理情報工学科 ( 千葉県習志野市 )  2010年10月22日  日本大学生産工学部数理情報工学科

報道関係 【 表示 / 非表示

  • 13年秋以来九工大白星

    西日本スポーツ(新聞)  2015年05月10日

    平賀, 宮瀬

  • 九工大13年秋以来勝利

    西日本新聞  2015年05月10日

    平賀, 宮瀬

科研費獲得実績 【 表示 / 非表示

  • 市民ランナーの安全で効率良いランニングフォーム学習支援システムの構築

    基盤研究(C)

    研究期間:  2016年04月  -  2019年03月

    研究課題番号:  16K01644

  • 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

    挑戦的萌芽研究

    研究期間:  2015年04月  -  2018年03月

    研究課題番号:  15K12003

     概要を見る

    次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究を実施する。

  • 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

    基盤研究(B)

    研究期間:  2013年04月  -  2017年03月

    研究課題番号:  25280016

     概要を見る

    高い信頼性が必要不可欠である体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための、電力に関わる問題を解決可能な極低電力自己テスト方式に関する研究

  • 先端LSIテスト手法に対応した設計フロー最適化に関する研究

    若手研究(B)

    研究期間:  2013年04月  -  2016年03月

    研究課題番号:  25730031

  • 高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

    挑戦的萌芽研究

    研究期間:  2012年04月  -  2015年03月

    研究課題番号:  24650022

     概要を見る

    高品質・低コストLSIの創出には、LSI内の論理値が変化するスイッチングを制御する必要がある。論理スイッチングを均衡させることを目的にして様々な手法を研究開発する。

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受託研究・共同研究実施実績 【 表示 / 非表示

  • High Dependable Design and Test Techniques for SoC including Embedded Flash Memory

    その他共同研究等

    研究期間:  2017年08月  -  2018年03月

  • 加速度・角速度センサーを用いた動作模倣ガイドシステム開発に関する研究

    共同研究

    研究期間:  2014年08月  -  2015年07月

  • 次世代LSI対応テストパタン生成のための設計フロー構築に関する研究

    共同研究

    研究期間:  2011年08月  -  2012年07月

  • 高精度電力・ノイズ考慮テスト生成技術の研究

    共同研究

    研究期間:  2008年07月  -  2009年03月

海外研究歴 【 表示 / 非表示

  • Diagnosis of Low Power LSI

    University of Passau  ドイツ連邦共和国  研究期間:  2014年11月  -  2015年02月

  • 先端LSIに対する多目的検査用入力データ生成システム構築に関する研究

    University of Freiburg  ドイツ連邦共和国  研究期間:  2012年10月01日  -  2013年03月31日

 

担当授業科目 【 表示 / 非表示

  • 2020年度  LSIバックエンド設計特論

  • 2020年度  情報セキュリティ概論

  • 2020年度  信号処理回路

  • 2020年度  計算機システムⅠ

  • 2020年度  LSI設計演習

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教育活動に関する受賞・指導学生の受賞など 【 表示 / 非表示

  • 平成30年度 Lectures of the Year

    2019年06月   九州工業大学情報工学部

その他教育活動 【 表示 / 非表示

  • 明専会学生プロジェクト 指導教員

    2021年04月
    -
    2022年03月

     概要を見る

    夢チャレンジプロジェクト

  • 明専会学生プロジェクト 指導教員

    2020年04月
    -
    2021年03月

     概要を見る

    夢チャレンジプロジェクト

  • 全学 硬式野球部 顧問(監督)

    2014年06月
    -
    継続中
 

学会・委員会等活動 【 表示 / 非表示

  • 2021年03月
    -
    2023年01月

    米国電気電子学会(IEEE), ACM   Asia and South Pacific Design Automation Conference 2023, Publication co-chair

  • 2020年02月
    -
    継続中

    米国電気電子学会(IEEE) CAS   IEEE福岡支部CAS Treasurer/Secretary

  • 2019年07月
    -
    2020年01月

    米国電気電子学会(IEEE), ACM   Asia and South Pacific Design Automation Conference 2020, TPC chair

  • 2019年03月
    -
    2021年11月

    米国電気電子学会(IEEE)   IEEE Asian Test Symposium (2021) Secretary

  • 2019年03月
    -
    2021年01月

    米国電気電子学会(IEEE)   Asia and South Pacific Design Automation Conference 2021, Publication co-chair

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社会貢献活動(講演会・出前講義等) 【 表示 / 非表示

  • 全九州大学野球協会代表監督会書記

    2021年02月
    -
    継続中
  • 九州六大学福岡六大学九州地区野球連盟小委員会委員

    2017年10月
    -
    継続中

     概要を見る

    九州・沖縄の野球発展および円滑な試合運営のための小委員会委員

  • 福岡六大学野球連盟 理事

    2014年09月
    -
    継続中
  • 全九州大学野球協会常任委員

    2014年08月
    -
    継続中

     概要を見る

    九州の大学野球の運営

  • 九州工業大学硬式野球部 監督

    2014年06月
    -
    継続中