口頭発表・ポスター発表等 - 寺井 慶和
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β-FeSi2 pnホモ型接合素子の作製と分光感度評価
木下涼太, 山戸一輝, 寺井慶和
2020年度 応用物理学会九州支部学術講演会
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n-Ru2Si3/p-Siヘテロ接合における光応答特性の評価(II)
西 大樹,寺井慶和
2020年 第81回応用物理学会秋季学術講演会
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スパッタリング法によるβ-Fe1-xRuxSi2多結晶薄膜の作製
篠村 太輔,西 大樹,寺井 慶和
2020年 第81回応用物理学会秋季学術講演会
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n-Ru2Si3/p-Si pn接合素子における光応答特性の評価
西 大樹,寺井慶和
2020年 第67回応用物理学会春季学術講演会
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固相成長法により作製したRu2Si3多結晶薄膜の光学特性評価
西 大樹,瀬戸島 健太,寺井 慶和
第11回半導体材料・デバイスフォーラム
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Sb添加β-FeSi2エピタキシャル膜におけるSi/Fe組成比の最適化
木下涼太,阿部光希,江口元,寺井慶和
2019年 第80回応用物理学会秋季学術講演会
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n-Ru2Si3/p-Si pn接合素子の作製と光応答特性
西 大樹,瀬戸島 健太,寺井慶和
2019年 第80回応用物理学会秋季学術講演会
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Dependence of electrical conduction properties on activation conditions in Sb-doped β-FeSi2 epitaxial films
Mitsuki Abe, Hajime Eguchi, Hirofumi Hoshida and Yoshikazu Terai
Asia-Pacific Conference on Green Technology with Silicides and Related Materials
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Photoreflectance spectra of highly-oriented Mg2Si(111)//Si(111) films
R. Kinoshita, H. Hoshida, A. Shevlyagin, I. Chernev, A. Gouralnik, and Y. Terai
Asia-Pacific Conference on Green Technology with Silicides and Related Materials 2019
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Photoluminescence properties of polycrystalline β-FeSi2 grown by RF magnetron sputtering
Hiroki Nishi, Naohiro Oka and Yoshikazu Terai
Asia-Pacific Conference on Green Technology with Silicides and Related Materials 2019
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Si/B添加β-FeSi2/Si積層構造における1.5 μm発光の活性層厚依存性
岡 直大,佐藤隆治,寺井慶和
2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
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Mg2Si(111)//Si(111)高配向膜における光変調反射率スペクトルの評価
星田裕文, S. Alexander, I. Chernev, N.G. Galkin, 寺井慶和
2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
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Study of the origin of defect levels in undoped-BaSi2 epitaxial films by PL measurement
L. Benincasa, H. Hoshida, T. Deng, T. Sato, K. Toko, Y. Terai, and T. Suemasu
2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
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Sb添加β-FeSi2エピタキシャル膜におけるドナー活性化条件の最適化(II)
江口 元,阿部光希,木下涼太,村上智樹,寺井慶和
2019年 第66回応用物理学会春季学術講演会
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Si/B添加β-FeSi2/Si多重積層構造における発光スペクトル評価
岡 直大,瀬戸島 健太,寺井 慶和
平成30年度応用物理学会九州支部学術講演会
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Sb添加β-FeSi2エピタキシャル膜におけるSb置換サイトの検証
阿部光希,江口元,星田裕文,寺井慶和
平成30年度応用物理学会九州支部学術講演会
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偏光ラマン測定を用いたBaSi2エピタキシャル膜の分子振動評価
星田裕文,末益 崇,寺井慶和
第10回半導体材料・デバイスフォーラム
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Sb添加β-FeSi2エピタキシャル膜の作製とドナー活性化条件の最適化
江口 元,飯沼 元輝,星田 裕文,村社 尚紀,寺井 慶和
第10回半導体材料・デバイスフォーラム
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BaSi2エピタキシャル膜における光変調反射率スペクトルのBa/Siフラックス比依存性
星田裕文,末益 崇,寺井慶和
2018年 第79回応用物理学会秋季学術講演会
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Investigation of defect levels in undoped-BaSi2 epitaxial films by PL measurement
L. Benincasa, H. Hoshida, T. Deng, M. Sato, K. Toko, Y. Terai, and T. Suemasu
2018年 第79回応用物理学会秋季学術講演会