口頭発表・ポスター発表等 - 宮瀬 紘平
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New Test Partition Approach for Segmented Testing with Lower System Failure Rate
Senling Wang
第66回ＦＴＣ研究会
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実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について
西田優一朗
第66回ＦＴＣ研究会
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フィールドテストの環境モニタ用回路の試作評価
三宅庸資
第66回ＦＴＣ研究会
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マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減
山口久登
電子情報通信学会技術研究報告
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テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト
宮瀬紘平
電子情報通信学会技術研究報告
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実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
九州工業大学 坂井
電子情報通信学会技術研究報告 DC2010-60
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実速度テストに対する品質考慮ドントケア判定
九州工業大学 河野
第64回ＦＴＣ研究会資料
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熱モニタ用リングオシレータの評価機構とTEG設計
九州工業大学 井上
第64回ＦＴＣ研究会資料
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信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
電子情報通信学会技術研究報告 VLD2009-55
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実速度スキャンテストにおけるクリティカルエリア特化型IR-Drop削減手法
九州工業大学 榎元
第62回電気関係学会九州支部連合大会
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ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法
本人
第61回ＦＴＣ研究会資料
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部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化
本人
電子情報通信学会技術研究報告 DC2009-76
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について
高嶋敦之
電子情報通信学会技術研究報告, DC2008-30(VLD2008-62)
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時消費電力削減手法
情報システム専攻 新田和彦
第58回FTC研究会資料
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について
情報創成工学専攻 福澤友晶
電子情報通信学会技術研究報告
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Per-Test X故障診断手法の診断分解能向上について
情報創成工学専攻 大谷雅志
LSIテスティングシンポジウム2007
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LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
情報創成工学専攻 中村優介
電子情報通信学会技術研究報告
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A Transition Delay Test Generation Method for Capture Power Reduction during At-Speed Scan Testing
情報創成工学専攻 Tomoaki. Fukuzawa
Microelectronics Assembling And Packaging & Reverse Trade Show