口頭発表・ポスター発表等 - 宮瀬 紘平
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Per-Test X故障診断手法の診断分解能向上について
情報創成工学専攻 大谷雅志
LSIテスティングシンポジウム2007
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LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
情報創成工学専攻 中村優介
電子情報通信学会技術研究報告
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A Transition Delay Test Generation Method for Capture Power Reduction during At-Speed Scan Testing
情報創成工学専攻 Tomoaki. Fukuzawa
Microelectronics Assembling And Packaging & Reverse Trade Show