口頭発表・ポスター発表等 - 大村 一郎
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過渡的なゲート閾値計測によるジャンクション温度モニタリング方法
Bayarsaikhan Yandagkhuu, 一郎大村
電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会
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SiC MOSFETのソフトターンオフ短絡保護方法の提案
杜 赫, Bayarsaikhan Yandagkhuu, 大村一郎
電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会
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並列IGBTデバイスの電流均一化のためのゲート遅延制御とミラープラトー効果
とりぱし らび なす, 大村一郎
電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会
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持続可能な未来とパワーエレクトロニクス 招待有り
大村一郎
信学技報（電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会（EE））
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Online junction temperature measurement of Power MOSFET by dynamic VGS-ID monitoring system
Yandagkhuu Bayarsaikhan, Ichiro Omura
信学技報（電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会（EE））
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Single PCB current sensor for feedback control in the switch mode power converters
Bayarkhuu Battuvshin・Omura Ichiro
信学技報（電子情報通信学会電子通信エネルギー技術研究会（EE））
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複数巻線を用いたMRM用高磁束発生回路
花田哲郎, 和田圭二, 高宮真, 赤津観, 大村一郎
電気学会 電子デバイス/半導体電力変換 合同研究会
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パワーサイクル試験のDUT温度係数依存性
秋元健志, 大村一郎
信学技報（電子情報通信学会技術研究報告. EE, 電子通信エネルギー技術 ）
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MOSゲート型パワー半導体におけるセルフターンオン現象の解析とモデル化
西尾貴植, 大村一郎
電子情報通信学会/ 電子通信エネルギー技術研究会（EE）
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パワーデバイス電流集中測定技術
西尾成植, 松浦成哉, 附田正則, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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13kV UHV-IGBTの理論検討
伊東篤史, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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Cosmic Ray Failure Rate Calculation for Power Semiconductor Device for Aircraft applications
Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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パワーサイクル試験の高精度化に向けた研究
川内勇真, 秋元健志, 渡邉晃彦, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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赤外線カメラを使用したパワー半導体の歪みと温度の同時モニタリング
増田貴樹, 渡邉晃彦, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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650V定格FP-MOSFET実現に向けた理論検討
星原宏紀, 伊東篤史, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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デジタルゲートドライブ方式を用いたIGBTのスイッチング特性最適化技術の研究
原崎宏治, 附田正則, 大村一郎
電気学会電子デバイス/半導体電力変換合同研究会
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Simultaneous Monitoring of Strain and Temperature for Power Semiconductor using Single IR Camera
Yoshiki Masuda Akihiko Watanabe, Ichiro Omura
8th International Symposium on Applied Engineering and Sciences（SAES2020）
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SEB Failure Rate Calculation for High Power Semiconductor due to Neutrons at Aviation Altitude
Srikanth Gollapudi, Ichiro Omura
8th International Symposium on Applied Engineering and Sciences（SAES2020）
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13kV UHV-IGBT : Feasibility Study
Atsushi Ito, Ichiro Omura
8th International Symposium on Applied Engineering and Sciences（SAES2020）
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Development of Condition Monitoring System for Power Semiconductor Devices
Kazuha Watanabe, Masanori Tsukuda, Li Guan, Ichiro Omura
8th International Symposium on Applied Engineering and Sciences（SAES2020）