Conference Prsentations (Oral, Poster) -
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Si基板上3C-SiC薄膜へのイオンビーム照射を用いたグラフェン成長に関する研究
石井純子
第34回表面科学学術講演会 日本表面科学会
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A Study of the Formation Process of Graphene on Silicon Carbide-on-Insulator Substrates
The 7th International Symposium on Surface Science
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The study of the electronic structure at CuPc adsorbed Si(100) surface by Metastable-atom Induced Electron Spectroscopy
The 7th International Symposium on Surface Science
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Oxidation of cesium adsorbed SiC surface studied by metastable atom induced electron spectroscopy
The 7th International Symposium on Surface Science
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メタンプラズマシース中において生成される球状カーボン微粒子の特徴
菅 祐志
九州表面・真空研究会2014（第19回九州薄膜・表面研究会）
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Comparison of tribological properties of closed-packed and well-aligned carbon nanotube and Peapod films
2014 International Industrial Information Systems Conference
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鉛直柱状プラズマ－基板間における球状カーボン微粒子の成長様式の解明
中山泰輔
平成25年度応用物理学会九州支部学術講演会 応用物理学会九州支部
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準安定原子誘起電子分光法による銅フタロシアニンを吸着したSi(100)表面の電子状態の観測
金子福利
平成25年度応用物理学会九州支部学術講演会 応用物理学会九州支部
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Nd-Fe-B系磁石の保留場に対する圧力効果
後藤弘樹
第119回日本物理学会九州支部例会 日本物理学会九州支部
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メソ多孔体細孔中に合成したDyMnO3ナノ粒子の磁性と結晶構
新納 健
第119回日本物理学会九州支部例会 日本物理学会九州支部
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鉛直柱状プラズマシースにおける球状カーボン微粒子の成長
菅 祐志
第54回真空に関する連合講演会 日本真空学会
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SOI基板を用いたグラフェン形成に関する研究
早久和希
第54回真空に関する連合講演会 日本真空学会
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Cu(111)面に吸着させた蛍光タンパク質の走査トンネル顕微鏡観察
冨田哲朗
第54回真空に関する連合講演会 日本真空学会
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イオンビーム照射を用いたカーボンナノチューブ生成制御に関する研究
高松草平
第54回真空に関する連合講演会 日本真空学会
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Ion-beam irradiation effect in the growth process of grapheme using SiC-on-insulator substrates
The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
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Observation of the electronic structure of Si/6H-SiC(0001) reconstruction surfaces by metastable atom induced electron spectroscopy
The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
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Growth control of carbon nanotubes using ion-beam irradiation in the SiC surface decomposition method
The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
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SOI基板を用いたSiC膜のグラフェン化におけるイオンビーム照射に関する研究
枝元太希
九州表面・真空研究会2013（第18回九州薄膜・表面研究会）
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MIESを用いた6H-SiC(0001)表面構造変化に伴う最表面電子状態の観測
村岡幸輔
九州表面・真空研究会2013（第18回九州薄膜・表面研究会）
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Adsorption of fullerene on a Si(100) surface with Bi-line structure as evaluated by scanning tunneling microscopy
2012 Joint Conference of the International Industrial Information Systems Conference & the International Conference on Computers, Communications and Systems