論文 - 温 暁青
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Power-Aware Testing For Low-Power VLSI Circuits 招待有り 査読有り 国際誌
X. Wen
2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, ICSICT 2016 - Proceedings 585 - 588 Paper S37-1 2016年10月
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Multiple-Bit-Flip Detection Scheme for a Soft-Error Resilient TCAM 査読有り 国際誌
I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen
Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2016-September 679 - 684 2016年07月
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SAT-Based Post-Processing for Regional Capture Power Reduction in at-speed scan test generation 査読有り 国際誌
S. Eggersgluss, K. Miyase, X. Wen
IEEE European Test Symposium 2016-July 2016年05月
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Thermal-Aware Small-Delay Defect Testing in Integrated Circuits for Mitigating Overkill 査読有り 国際誌
D. Xiang, K. Shen, B. B. Bhattacharya, X. Wen, X. Lin
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 35 ( 3 ) 499 - 512 2016年03月
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Test Pattern Modification for Average IR-Drop Reduction 査読有り 国際誌
W.-S. Ding, H.-Y. Hsieh, C.-Y. Han, James C.-M. Li, X. Wen
IEEE Transactions on VLSI Systems 24 ( 1 ) 38 - 49 2016年01月
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Logic/Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation for Avoiding False Capture Failures and Reducing Clock Stretch 査読有り 国際誌
K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, J. Qian
IEEE Asian Test Symposium 103 - 108 2015年11月
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Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing 招待有り 査読有り 国際誌
X. Wen
IEEE International Conference on ASIC Paper B5-3 2015年11月
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A Soft-Error Tolerant TCAM for Multiple-Bit Flips Using Partial Don't Care Keys 査読有り 国際誌
I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
24th International Workshop on Logic and Synthesis 2015年06月
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Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information 査読有り 国際誌
K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
IEEE European Test Symposium Paper 9.1 2015年05月
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A Soft-Error Tolerant TCAM Using Partial Don’t-Care Keys 査読有り 国際誌
I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
IEEE European Test Symposium Poster 2.4 2015年05月
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GPU-Accelerated Small Delay Fault Simulation 査読有り 国際誌
E. Schneider, S. Holst, M.-A. Kochte, X. Wen, H.-J. Wunderlich
Design and Test in Europe 1174 - 1179 2015年03月
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Towards Memory-Aware VLSI Simulation Algorithms for Heterogeneous Architectures 査読有り 国際誌
S. Holst, J. Miyazaki, X. Wen
International Symposium on Applied Engineering and Sciences 2014年12月
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Soft-Error Tolerant TCAMs for High-Reliability Packet Classification 査読有り 国際誌
I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen, S. Holst, K. Miyase
IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems 471 - 474 2014年11月
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Data-Parallel Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits 査読有り 国際誌
E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H. Wunderlich
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, Digest of Technical Papers, ICCAD 17 - 23 2014年11月
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On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST 査読有り 国際誌
A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
IEICE Transactions on Information and Systems E97 ( 10 ) 2706 - 2718 2014年10月
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低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強, 温 暁青, 宮瀬 紘平, ホルスト シュテファン, 梶原 誠司
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 ( 一般社団法人電子情報通信学会 ) 114 ( 99 ) 15 - 20 2014年06月
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Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits 査読有り 国際誌
E. Schneider, S. Holst, X. Wen, H.-J. Wunderlich
ACM Design Automation Conference Poster 2014年06月
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Low-power testing for 2D/3D devices and systems 査読有り 国際誌
Lin X., Wen X., Xiang D.
Design of 3D Integrated Circuits and Systems 235 - 277 2014年01月
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ATPG Enhancement Technology 査読有り 国際誌
N.A. Zakaria, M.Z Khalid, X. Wen
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Paper IV.5.S 2013年11月
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On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST 査読有り 国際誌
A. Tomita, X. Wen, Y. Sato, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
IEEE Asian Test Symposium 19 - 24 2013年11月