論文 - 温 暁青
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On Design for IDDQ-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies 査読有り 国際誌
X. Wen,S. Kajihara,H. Tamamoto,K. K. Saluja,K. Kinoshita
IEICE Transactions on Information and Systems E88-D ( 4 ) 703 - 710 2005年04月
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中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について 査読有り
温暁青，梶原誠司，玉本英夫，K. K. Saluja，樹下行三
電子情報通信学会論文誌D-I J88-D-I ( 4 ) 906 - 907 2005年04月
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At-Speed Logic BIST for IP Cores 査読有り 国際誌
B. Cheon,E. Lee,L.-T. Wang,X. Wen,P. Hsu,J. Cho,J. Park,H. Chao,S. Wu
Design Automation, and Test in Europe 860 - 861 2005年03月
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Fault Diagnosis for Physical Defects using Unknown Behavior Model 査読有り 国際誌
X. Wen,H. Tamamoto,K. K. Saluja,K. Kinoshita
Journal of Computer Science and Technology 20 ( 2 ) 187 - 194 2005年03月
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Test Compression for Scan Circuits Using Scan Polarity Adjustment and Pinpoint Test Relaxation 査読有り 国際誌
Y. Doi,S. Kajihara,X. Wen,L. Li,and K. Chakrabarty
ACM Asian and South Pacific Design Automation Conference 59 - 64 2005年01月
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On Extraction of a Cube with the Minimum Number of Literals from a Given Input Vector 査読有り 国際誌
K. Miyase,S. Nagayama,S. Kajihara,X. Wen,and S. M. Reddy
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 71 - 76 2004年11月
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On Per-Test Fault Diagnosis Using the X-Fault Model 査読有り 国際誌
X. Wen,T. Miyoshi,S. Kajiihara,L. Wang,K. K. Saluja,and K. Kinoshita
IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design 633 - 640 2004年11月
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VirtualScan: A New Compressed Scan Technology for Test Cost Reduction 査読有り 国際誌
L.-T. Wang,X. Wen,H. Furukawa,F. Hsu,S. Lin,S. Tsai,K. S. Abdel-Hafez,S. Wu
IEEE International Test Conference 916 - 925 2004年10月
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ロジックBIST技術の現状と課題 招待有り 査読有り
温暁青，梶原誠司
日本信頼性学会誌 ( 未設定 ) 26 ( 4 ) 252 - 262 2004年06月