論文 - 温 暁青
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Search Space Reduction for Low-Power Test Generation 査読有り 国際誌
K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
IEEE Asian Test Symposium 171 - 176 2013年11月
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Test Pattern Modification for Average IR-drop Reduction 査読有り 国際誌
J. Li, W-S. Ding, H-Y. Hsieh, X. Wen
IEEE International Test Conference Poster 2013年09月
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A Capture-Safety Checking Metric Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Testing 査読有り 国際誌
K. Miyase, R. Sakai, X. Wen, M. Aso, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara
IEICE Transaction on Information and Systems E96-D ( 9 ) 2003 - 2011 2013年09月
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SafeTIDE: A Technique for Transition Isolation Scan Cells Hardware Overhead Reduction 査読有り 国際誌
Y.-T. Lin, J.-L. Huang, X. Wen
VLSI Test Technology Workshop Paper 4.4 2013年07月
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Controllability Analysis of Local Switching Activity for Layout Design 査読有り 国際誌
K. Miyase, M. Sauer, B. Becker, X. Wen, S. Kajihara
Workshop on Design and Test Methodologies for Emerging Technologies Paper 2 2013年05月
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LCTI-SS: Low-Clock-Tree-Impact Scan Segmentation for Avoiding Shift Timing Failures in Scan Testing 査読有り 国際誌
Y. Yamato, X. Wen, M. A. Kochte, K. Miyase, S. Kajihara, L.-T. Wang
IEEE Design & Test of Computers 30 ( 4 ) 60 - 70 2013年04月
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On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing with Broadcast-Scan-Based Test Compression 査読有り 国際誌
K. Enokimoto, X. Wen, K. Miyase, J.-L. Huang, S. Kajihara, L.-T. Wang
26th International Conference on VLSI Design 279 - 284 2013年01月
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Fault Detection with Optimum March Test Algorithm 査読有り 国際誌
N. Zakaria, W. Hassan, I. Halin, R. Sidek, X. Wen
Journal of Theoretical and Applied Information Technology 47 ( 1 ) 18 - 27 2013年01月
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Estimation of the Amount of Don't-Care Bits in Test Vectors 査読有り 国際誌
K. Miyase, S. Kajihara, X. Wen
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2012年11月
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A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power 査読有り 国際誌
Y.-T. Lin, J.-L Huang, X. Wen
IEEE Asian Test Symposium 107 - 112 2012年11月
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On Pinpoint Capture Power Management in At-Speed Scan Test Generation 査読有り 国際誌
X. Wen, Y. Nishida, K. Miyase, S. Kajihara, P. Girard, M. Tehranipoor, L.-T. Wang
IEEE International Test Conference Paper 6.1 2012年11月
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Launch-on-Shift Test Generation for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains 査読有り 国際誌
S. Wu, L.-T. Wang, X. Wen, Z. Jiang, W.-B. Jone, M. S. Hsiao, L. Tan, Y. Zhang, C.-M. Li, J.-L. Huang
ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems 17 ( 4 ) Article No. 48 2012年10月
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A Transition Isolation Scan Cell Design for Low Shift and Capture Power 査読有り 国際誌
Y.-T. Lin, J.-L. Huang, X. Wen
VLSI Test Technology Workshop 2012年07月
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Power-Aware Testing: The Next Stage 招待有り 査読有り 国際誌
X. Wen
IEEE European Test Symposium Invited Talk 2012年05月
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A Novel Capture-Safety Checking Method for Multi-Clock Designs and Accuracy Evaluation with Delay Capture Circuits 査読有り 国際誌
K. Miyase, M. Aso, R. Ootsuka, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, K, Enokimoto, S. Kajihara
IEEE VLSI Test Symposium 197 - 202 2012年04月
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Layout-Aware Pattern Evaluation and Analysis for Power-Safe Application of TDF Patterns 査読有り 国際誌
H. Salmani, W. Zhao, M. Tehranipoor, S. Chacravarty, P. Girard, X. Wen
ASP Journal of Lower Power Electronics 8 ( 2 ) 248 - 258 2012年04月
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Fault Detection with Optimum March Test Algorithm 査読有り 国際誌
N.A. Zakaria, W.Z.W. Hasan, I.A. Halin, R.M. Sidek, X. Wen
IEEE International Conference on Intelligent Systems, Modeling and Simulation Paper S8 2012年02月
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Testing static single cell faults using static and dynamic data background 査読有り 国際誌
N.A. Zakaria, W.Z.W. Hasan, I.A. Halin, R.M. Sidek, X. Wen
IEEE Student Conference on Research and Development 1 - 6 2011年12月
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Additional Path Delay Fault Detection with Adaptive Test Data 査読有り 国際誌
K. Miyase, H. Tanaka, K. Enokimoto, X. Wen, S. Kajihara
IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 31 - 34 2011年11月
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Effective Launch Power Reduction for Launch-Off-Shift Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling 査読有り 国際誌
K. Miyase, U. Uchinodan, K. Enokimoto, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara, F. Wu, L. Dilillo, A. Bosio, P. Girard
IEEE Asian Test Symposium 90 - 95 2011年11月