論文 - 温　暁青

A Novel Per-Test Fault Diagnosis Method Based On the Extended X-Fault Model for Deep-Submicron LSI Circuits 査読有り 国際誌

Y. Yamato,Y. Nakamura,K. Miyase,X. Wen,and S. Kajihara

IEICE Transactions on Information and Systems   E91-D ( 3 )   667 - 674   2008年03月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌

Kyutacar

Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,K. Miyase,T. Suzuki,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Special Issue on Low Power Testing   24 ( 4 )   379 - 391   2008年01月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌

DOI： 10.1007/s10836-007-5033-3

Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation 査読有り 国際誌

S. Kajihara,S. Morishima,M. Yamamoto,X. Wen,M. Fukunaga,K. Hatayama,and T. Aikyo

IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design   413 - 417   2007年11月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   San Jose, CA   2007年11月05日  -  2007年11月08日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set 査読有り 国際誌

K. Miyase,X. Wen,S. Kajihara,M. Haraguchi,H. Furukawa

IEEE International Workshop on Defect Based Testing   51 - 56   2007年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara, CA   2007年10月25日  -  2007年10月26日

主要論文集（会議）

A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,K. Miyase,S. Kajihara,T. Suzuki,Y. Yamato,P. Girard,Y. Ohsumi,and L.-T. Wang

IEEE International Test Conference   25.1   2007年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara   2007年10月21日  -  2007年10月26日

主要論文集（会議）

DOI： 10.1109/TEST.2007.4437632

Kyutacar

A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,S. Kajiihara,K. Miyase,T. Suzuki,K. K. Saluja,L.-T. Wang,K. Kinoshita

IEICE Transactions on Information and Systems   E90-D ( 9 )   1398 - 1405   2007年09月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌 代表的研究業績

Kyutacar

Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,K. Miyase,T. Suzuki,S. Kajihara,Y. Ohsumi,K. K. Saluja

IEEE/ACM Design Automation Conference   527 - 532   2007年06月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   San Diego   2007年06月04日  -  2007年06月08日

主要論文集（会議）

An Improved Method of Per-Test X-Fault Diagnosis for Deep-Submicron LSI Circuits 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamato,K. Miyase,S. Kajihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing   55 - 60   2006年11月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

日本   福岡   2006年11月23日  -  2006年11月24日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

Kyutacar

Test Data Compression Based on Clustered Random Access Scan 査読有り 国際誌

Y. Hu,C. Li,J. Li,Y. Han,X. Li,W. Wang,H. Li,L.-T. Wang,X. Wen

IEEE Asian Test Symposium   231 - 236   2006年11月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Japan   Fukuoka   2006年11月20日  -  2006年11月23日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/ATS.2006.261025

A Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the X-Fault Model 査読有り 国際誌

X. Wen,S. Kajiihara,K. Miｙase,Y. Yamato,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEICE Transactions on Information and Systems   E89-D ( 11 )   2756 - 2765   2006年11月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌 代表的研究業績

A Framework of High-quality Transition Fault ATPG for Scan Circuits 査読有り 国際誌

S. Kajihara,S. Morishima,A. Takuma,X. Wen,T. Maeda,S. Hamada,Y. Sato

IEEE International Test Conference   Paper 2.1   2006年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara   2006年10月24日  -  2006年10月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2006.297683

A Novel and Practical Control Scheme for Inter-Clock At-Speed Testing 査読有り 国際誌

H. Furukawa,X. Wen,L.-T. Wang,B. Sheu,Z. Jiang,S. Wu

IEEE International Test Conference   Paper 17.2   2006年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara   2006年10月24日  -  2006年10月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2006.297641

Kyutacar

Compression/Scan Co-Design for Reducing Test Data Volume, Scan-in Power Dissipation, and Test Application Time 査読有り 国際誌

Y. Hu,Y. Han,X. Li,H. Li,X. Wen

IEICE Transactions on Information and Systems   E89-D ( 10 )   2616 - 2625   2006年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌

DOI： 10.1093/ietisy/e89-d.10.2616

Kyutacar

A Highly-Guided X-Filling Method for Effective Low-Capture-Power Scan Test Generation 査読有り 国際誌

X. Wen,K. Miyase,T. Suzuki,Y. Yamato,S. Kajihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja

IEEE International Conference on Computer Design   251 - 258   2006年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   San Jose   2006年10月01日  -  2006年10月04日

代表的研究業績

DOI： 10.1109/ICCD.2006.4380825

Kyutacar

Hybrid Fault Simulation with Compiled and Event-Driven Methods 査読有り 国際誌

K. Taniguchi,H. Fujii,S. Kajihara,X. Wen

IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology   240 - 243   2006年09月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Tunisia   Tunis   2006年09月05日  -  2006年09月07日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/DTIS.2006.1708670

A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamashita,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEICE Transactions on Information and Systems   E89-D ( 5 )   1679 - 1686   2006年05月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌 代表的研究業績

Kyutacar

A New ATPG Method for Efficient Capture Power Reduction During Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,S. Kajihara,K. Miyase,T. Suzuki,K. K. Saluja,L.-T. Wang,K. S. Abdel-Hafez,K. Kinoshita

IEEE VLSI Test Symposium   58 - 63   2006年04月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Berkeley   2006年04月30日  -  2006年05月04日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/VTS.2006.8

Kyutacar

A Dynamic Test Compaction Procedure for High-quality Path Delay Testing 査読有り 国際誌

M. Fukunaga,S. Kajihara,X. Wen,T. Maeda,S. Hamada,Y. Sato

IEEE/ACM Asian and South Pacific Design Automation Conference   348 - 353   2006年01月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Japan   Yokohama   2006年01月23日  -  2006年01月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1145/1118299.1118388

On Improving Defect Coverage of Stuck-at Fault Tests 査読有り 国際誌

K. Miyase, K. Terashima, S. Kajihara, X. Wen, S. M. Reddy

IEEE Asian Test Symposium   216 - 223   2005年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

India   Calcutta   2005年12月18日  -  2005年12月21日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/ATS.2005.84

Compression/Scan Co-Design for Reducing Test Data Volume, Scan-In Power Dissipation and Test Application Time 査読有り 国際誌

Y. Hu, Y. Han, X. Li, H. Li, X. Wen

IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing   8 - 8   2005年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

China   Changsha   2005年12月12日  -  2005年12月14日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/PRDC.2005.26