論文 - 温　暁青

A Framework of High-quality Transition Fault ATPG for Scan Circuits 査読有り 国際誌

S. Kajihara,S. Morishima,A. Takuma,X. Wen,T. Maeda,S. Hamada,Y. Sato

IEEE International Test Conference   Paper 2.1   2006年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara   2006年10月24日  -  2006年10月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2006.297683

A Novel and Practical Control Scheme for Inter-Clock At-Speed Testing 査読有り 国際誌

H. Furukawa,X. Wen,L.-T. Wang,B. Sheu,Z. Jiang,S. Wu

IEEE International Test Conference   Paper 17.2   2006年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Santa Clara   2006年10月24日  -  2006年10月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2006.297641

Kyutacar

Compression/Scan Co-Design for Reducing Test Data Volume, Scan-in Power Dissipation, and Test Application Time 査読有り 国際誌

Y. Hu,Y. Han,X. Li,H. Li,X. Wen

IEICE Transactions on Information and Systems   E89-D ( 10 )   2616 - 2625   2006年10月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌

DOI： 10.1093/ietisy/e89-d.10.2616

Kyutacar

A Highly-Guided X-Filling Method for Effective Low-Capture-Power Scan Test Generation 査読有り 国際誌

X. Wen,K. Miyase,T. Suzuki,Y. Yamato,S. Kajihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja

IEEE International Conference on Computer Design   251 - 258   2006年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   San Jose   2006年10月01日  -  2006年10月04日

代表的研究業績

DOI： 10.1109/ICCD.2006.4380825

Kyutacar

Hybrid Fault Simulation with Compiled and Event-Driven Methods 査読有り 国際誌

K. Taniguchi,H. Fujii,S. Kajihara,X. Wen

IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology   240 - 243   2006年09月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Tunisia   Tunis   2006年09月05日  -  2006年09月07日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/DTIS.2006.1708670

A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamashita,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEICE Transactions on Information and Systems   E89-D ( 5 )   1679 - 1686   2006年05月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌 代表的研究業績

Kyutacar

A New ATPG Method for Efficient Capture Power Reduction During Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,S. Kajihara,K. Miyase,T. Suzuki,K. K. Saluja,L.-T. Wang,K. S. Abdel-Hafez,K. Kinoshita

IEEE VLSI Test Symposium   58 - 63   2006年04月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Berkeley   2006年04月30日  -  2006年05月04日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/VTS.2006.8

Kyutacar

A Dynamic Test Compaction Procedure for High-quality Path Delay Testing 査読有り 国際誌

M. Fukunaga,S. Kajihara,X. Wen,T. Maeda,S. Hamada,Y. Sato

IEEE/ACM Asian and South Pacific Design Automation Conference   348 - 353   2006年01月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Japan   Yokohama   2006年01月23日  -  2006年01月26日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1145/1118299.1118388

On Improving Defect Coverage of Stuck-at Fault Tests 査読有り 国際誌

K. Miyase, K. Terashima, S. Kajihara, X. Wen, S. M. Reddy

IEEE Asian Test Symposium   216 - 223   2005年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

India   Calcutta   2005年12月18日  -  2005年12月21日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/ATS.2005.84

Compression/Scan Co-Design for Reducing Test Data Volume, Scan-In Power Dissipation and Test Application Time 査読有り 国際誌

Y. Hu, Y. Han, X. Li, H. Li, X. Wen

IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing   8 - 8   2005年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

China   Changsha   2005年12月12日  -  2005年12月14日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/PRDC.2005.26

Efficient Test Set Modification for Capture Power Reduction 査読有り 国際誌

X. Wen,T. Suzuki,S. Kajihara,K. Miyase,Y. Minamoto,L.-T. Wang,K. K. Saluja

Jounal of Low Power Electrnics   1 ( 3 )   319 - 330   2005年12月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌 代表的研究業績

DOI： 10.1166/jolpe.2005.042

Kyutacar

Low-Capture-Power Test Generation for Scan-Based At-Speed Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamashita,S. Morishima,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEEE International Test Conference   Paper 39.2   2005年11月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Austin   2005年11月06日  -  2005年11月11日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2005.1584068

Kyutacar

UltraScan: Using Time-Division Demultiplexing/Multiplexing (TDDM/TDM) with VirtualScan for Test Cost Reduction 査読有り 国際誌

S. Wu,L.-T. Wang,K. S. Abdel-Hafez,B. Sheu,F. Hsu,S. Lin,M. Chang,X. Wen

IEEE International Test Conference   Paper 36.4   2005年11月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Austin   2005年11月06日  -  2005年11月11日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/TEST.2005.1584060

At-Speed Logic BIST Archtecture for Multiple-Clock Circuits 査読有り 国際誌

L.-T. Wang,X. Wen,B. Hsu,S. Wu,J. Guo

IEEE International Conference on Computer Design   475 - 478   2005年10月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   San Jose   2005年10月02日  -  2005年10月05日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/ICCD.2005.119

Wrapper Scan Chains Design for Rapid and Low Power Testing of Embedded Cores 査読有り 国際誌

Y. Han, Y. Hu, X. Li, H. Li, A. Chandra, X. Wen

IEICE Transactions on Information and Systems   E88-D ( 9 )   2126 - 2134   2005年09月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）

主要雑誌

Kyutacar

A Method for Low-Capture-Power At-Speed Test Generation 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamashita,S. Morishima,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing   40 - 49   2005年07月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

China   Harbin   2005年07月20日  -  2005年07月21日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

On Quantifying Observability for Fault Diagnosis of VLSI Circuits 査読有り 国際誌

N. Toyota,X. Wen,S. Kajihara,M. Sanada

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing   192 - 197   2005年07月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

China   Harbin   2005年07月20日  -  2005年07月21日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

Path Delay Test Compaction with Process Variation Tolerance 査読有り 国際誌

S. Kajihara,M. Fukunaga,X. Wen,T. Maeda,S. Hamada,Y. Sato

IEEE/ACM Design Automation Conference   845 - 850   2005年06月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Anaheim, CA   2005年06月13日  -  2005年06月17日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/DAC.2005.193933

On the Extraction of a Minimum Cube to Justify Signal Line Values 査読有り 国際誌

K. Miyase,S. Nagayama,S. Kajihara,X. Wen,S. M. Reddy

IEEE European Test Symposium   79 - 84   2005年05月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

Estonia   Tallinn   2005年05月22日  -  2005年05月25日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

On Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing 査読有り 国際誌

X. Wen,Y. Yamashita,S. Kajiihara,L.-T. Wang,K. K. Saluja,K. Kinoshita

IEEE VLSI Test Symposium   265 - 270   2005年05月

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担当区分：責任著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（国際会議プロシーディングス）

USA   Palm Springs   2005年05月01日  -  2005年05月05日

主要論文集（会議） 代表的研究業績

DOI： 10.1109/VTS.2005.60

Kyutacar